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電子背散射衍射（EBSD）

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2025-05-16

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電子背散射衍射EBSD測(cè)試的具體分析功能

電子背散射衍射 EBSD 測(cè)試的具體分析功能電子背散射衍射（ EBSD ），又稱為電子背向散射衍射或取向成像顯微術(shù)（ OIM ），是一種在掃描電子顯微鏡（ SEM ）中用于進(jìn)行晶體學(xué)和取向分析的技術(shù)。 EBSD 技術(shù)能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行微觀尺度上的晶體取向、晶界特性、相鑒定以及應(yīng)變分析等，是材料...

2024-10-11

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電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)及其應(yīng)用

電子背散射衍射 (EBSD) 技術(shù)及其應(yīng)用電子背散射衍射（ Electron Backscatter Diffraction ， EBSD ）是一種用于晶體材料微觀結(jié)構(gòu)分析的先進(jìn)技術(shù) ；它利用電子束在樣品表面的背散射現(xiàn)象，結(jié)合衍射原理，來(lái)分析樣品表面的晶體取向和晶粒結(jié)構(gòu)。一、基本原理 1. 電...

2024-09-23

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EBSD電子背散射衍射技術(shù)的原理及應(yīng)用

EBSD電子背散射衍射技術(shù)的原理及應(yīng)用電子背散射衍射（ Electron Backscatter Diffraction, EBSD ）是一種先進(jìn)的材料表征技術(shù)，用于晶體學(xué)、相分析、晶體取向和應(yīng)力狀態(tài)的定量分析； EBSD 技術(shù)結(jié)合了電子顯微鏡的成像能力和晶體學(xué)衍射原理，為材料科學(xué)和工程學(xué)領(lǐng)域...

2024-08-15

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原位EBSD測(cè)試技術(shù)：微觀結(jié)構(gòu)分析的利器

原位 EBSD 測(cè)試技術(shù)：微觀結(jié)構(gòu)分析的利器原位電子背散射衍射（ EBSD ）技術(shù)是一種強(qiáng)大的顯微結(jié)構(gòu)分析工具，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)和生物學(xué)等領(lǐng)域。它利用掃描電子顯微鏡（ SEM ）的高分辨率成像能力和電子背散射衍射（ EBSD ）圖案分析，實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)的定量分析和晶體學(xué)...

2024-06-24

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EBSD一瞥：原子級(jí)別晶體解析

EBSD一瞥：原子級(jí)別晶體解析電子背散射衍射（ EBSD）技術(shù) 是一種強(qiáng)大的顯微鏡技術(shù)，用于在原子級(jí)別上解析晶體結(jié)構(gòu) ，通過(guò)結(jié)合掃描電子顯微鏡（ SEM）和晶體學(xué)原理，EBSD技術(shù)能夠提供關(guān)于晶體取向、缺陷和應(yīng)變分布的詳細(xì)信息。工作原理 EBSD技術(shù)利用掃描電子顯微鏡產(chǎn)生的高能電子束照射...

2024-06-07

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電子背散射衍射EBSD技術(shù): 揭示材料晶體結(jié)構(gòu)的放大鏡

電子背散射衍射 EBSD 技術(shù) : 揭示材料晶體結(jié)構(gòu)的放大鏡電子背散射衍射 EBSD 技術(shù)是一種強(qiáng)大的顯微結(jié)構(gòu)分析工具，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)領(lǐng)域。通過(guò)結(jié)合 SEM 掃描電子顯微鏡和晶體學(xué)原理， EBSD 技術(shù)能夠提供關(guān)于材料晶體結(jié)構(gòu)、取向分布和相變等重要信息。本文將介紹 EBSD 技術(shù)的基本原理...

2024-05-15

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電子背散射衍射（EBSD）制樣技術(shù)（離子減?。?/p>

試樣的切割、尺寸及形狀 EBSD試樣切割時(shí)應(yīng)避開有缺陷的地方，選擇有代表性的部位。最好采用線切割的方法，由于電火花加工時(shí)產(chǎn)生的創(chuàng)面小，無(wú)大的沖擊力，相應(yīng)的變形層和相變較小，同時(shí)要求加工的試樣形狀規(guī)則，尺寸精確，加上線切割產(chǎn)生的表面浮雕、氧化層及磨損量等因素，試樣的厚度應(yīng)在0.5mm到３mm之間為宜...

2024-01-30

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